Med Leica's top-class optikk har NA2 og NAK2 et klart og kontraststerkt bilde.
trykk-knapp for kontroll av kompensator
2-sidig uendelig horisontalfinskrue for enkel tilsikting
grov og fin fokuseringsskrues
okularer tilgjengelig som opsjon
top-class optikk
Tekniske Data
NA2 / NAK2
Nøyaktighet: Standardavvik pr. 1 km dobbeltnivellement
0.7 mm (avhengig av stav, metode) 0.3 mm (med parallel-plate mikrometer)
Forstørrelse
standard: 32x FOK73 okular (opsjon): 40x
Korteste fokuseringsavstand
1.6 m
Compensator; Standardavvik
0.3''
For å forbedre nøyaktigheten, kan en montere et parallel-plate mikrometer på teleskopobjektivet. Parallel-plate mikrometeret tillater direkte avlesninger ned til 0.1mm og estimere avlesninger ned til 0.01mm. Dette gjør NA2 og NAK2 til ideelle presisjonsnivellerer for settningsmålinger og industrimålinger.
NAK2 har et innebygget sirkel glass sirkel for avlesning av horisontalvinkel.
Trenger du mer informasjon?
Trenger du mer informasjon om dette produktet?
Velg det du ønsker, velg land og klikk på [Fortsett] for å komme til din lokale kontakt i Leica Geosystems.
